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    產品詳細頁
    緊湊型測試儀

    緊湊型測試儀

    • 產品型號:CT440
    • 更新時間:2021-04-10
    • 產品介紹:緊湊型測試儀將高速電子設備和光干涉測量技術結合起來。四個集成的檢測器使您能夠同時測量四個通道,單次激光器掃描的動態范圍為65 dB。此外,可在任何掃描速度實現&#177;5 pm的波長精度,因此不需要在測量速度和精度間進行取舍。
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    緊湊的測試儀,用于快速、準確地鑒定無源光元器件(復用器/解復用器、濾波器、分光器等)和模塊(ROADM、WSS)。覆蓋從1240到1680 nm的頻譜范圍,因此可在整個電信頻段上進行測量。借助PDL選件,可同時測量插損和偏振相關損耗。

    主要功能

    • 快速測量變換函數(插損)

    • 波長范圍:1240-1680 nm(SMF型號)

    • PM和PDL選件

    • 波長分辨率:1至250 pm

    • 波長精度:±5 pm

    • 動態范圍:單次掃描時65 dB

    • 最多可結合4個可調諧激光器(SMF型號)

    • 配備四個內部檢測器,可通過同步進行擴展

    • 19英寸機架支持1U版本

    快速測量插損

    CT400地將高速電子設備和光干涉測量技術結合起來。四個集成的檢測器使您能夠同時測量四個通道,單次激光器掃描的動態范圍為65 dB。此外,可在任何掃描速度實現±5 pm的波長精度,因此不需要在測量速度和精度間進行取舍。

    準確測量插損

    CT440緊湊型測試儀集成了一個監測光電探測器,在掃描期間補償來自激光光源的任何功率波動??梢圆豢紤]激光器掃描速度,在1和250pm之間選擇采樣分辨率。除了±5 pm的波長精度外,內置的波長計可減輕對可調諧激光光源(TLS)的要求,從而在不影響測量性能的情況下降低系統成本。CT440在與TLS和PC連接時,可提供執行測量所需的各種功能。

    緊湊型測試儀支持全頻段

    CT440(SMF型號)覆蓋從1240到1680 nm頻譜范圍,且完全兼容EXFO的T100S-HP系列可調諧激光器。例如,將T100S-HP-O+、T100S-HP-ES、T100S-HP-CLU和CT440 SMF型號結合起來,實現全頻段測試。在使用多臺TLS時,CT440可自動在激光器間切換,實現無縫的全頻段測量。它與DUT間只需進行一次連接,這意味著不需要外部開關。

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                                    用于全頻段鑒定的典型配置

    PM選件

    CT440-PM可測量對偏振很敏感的元器件(如MZ調制器)的插損,此時在TLS輸入和輸出端口間需要一條偏振保持光纖。有兩個型號,使用PM13型光纖覆蓋O頻段(1260 nm至1360 nm),或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段(1440 nm至1640 nm)。因此,這些型號要求偏振保持的可調諧激光器,例如分別要求T100S-HP-O-M和100S-HP-SCL-M。

    PDL選件

    CT440-PDL集成了一個偏振態發生器,從而能夠通過連續的偏振控制掃描,鑒定插損和偏振相關損耗的頻譜(基于穆勒矩陣法)。有兩個型號,使用PM13型光纖覆蓋O頻段(1260 nm至1360 nm),或使用PM15型光纖覆蓋SCL頻段(1440 nm至1640 nm)。因此,這些型號要求偏振保持的可調諧激光器,例如分別要求T100S-HP-O-M和T100S-HP-SCL-M。

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                                  使用CT440-PDL測量PDL

    其它功能

    激光線外差檢測(SMF型號,TLS輸入端口數≥2)

    可將被測信號(SUT)連接到TLS第二個輸入端口上。在激光器掃描整個波長范圍的過程中,CT440會在穿過SUT波長時生成并檢測干涉圖樣。因此,CT440可用作多波長計。

    使用*的基準激光器或光纖耦合的氣體腔重新校準系統

    可使用支持外差檢測功能的基準激光器,或支持波長基準測試功能的氣體腔,進一步提高精度。

    帶內置分析功能的控制軟件

    提供直觀全面的GUI,便于激光器管理、基準測試、掃描配置和濾波器分析。

    完全的遠程控制

    借助DLL和CT440隨帶的示例軟件代碼,可隨時將元器件測試整合到復雜的遠程控制程序中。

    外形小巧

    CT440有全新的機架式版本(高度為1U),是空間有限的實驗室的理想之選。

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    備注

    a. 用于采樣分辨率為5 pm,> 5 nm進行的TLS掃描,對于PDL-O和PDL-SCL,采樣分辨率為1 pm,不包括TLS掃描的加速和減速部分。
    b. 在波長基準測試后。
    c. 對于檢測器上的入射功率> -30 dBm。精度:±0.5 dB,用于-30 dBm和-60 dBm之間的功率。
    d. 1260 nm至1640 nm。
    e. 如果激光器輸入功率 = 10 mW(動態范圍與激光器輸出功率成比例)。
    f. 對于檢測器上的入射功率 > -30 dBm,根據分辨率為5 pm時6個狀態測量結果確定。
    g. 穩定的測試條件,建議用于較高PDL的6個狀態。
    h. 選擇的激光器頻率范圍除以本地采樣分辨率。

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